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分析表征設備
粒度分析
納米粒度電位儀系列
納米粒度電位儀系列
型號:ZetasizerUltra
ZetasizerUltra融合了功能強大的DLS與ELS系統(tǒng),它采用了非侵入背散射(NIBS)和的多角動態(tài)光散射(MADLS)技術來測量顆粒與分子大小。NIBS的多用性和靈敏度可適用廣泛的濃度范圍,而MADLS則能讓您在這些關鍵測量當中更精細地了解樣品粒度分布。
ZetasizerUltra Red Label的MADLS擴展功能可直接分析顆粒濃度。顆粒濃度的測量適合于廣泛的材料,無需或只需很少稀釋,并且使用快捷,這一切使其成為一種理想的篩選技術。這是ZetasizerUltra的一項功能,甚至可以運用于以前非常難測量的病毒和類病毒顆粒(VLP)等樣品。