型號：M50、M60和M80輕松檢驗(yàn)、篩選、觀察或記錄
查看詳情
產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
激光粒度分析儀
納米粒度電位儀系列
真空封管機(jī)系統(tǒng)
CHI600E系列通用電化學(xué)工作站
微納3D打印機(jī)
常溫壓電d33測試儀
磁控離子濺射儀
Energylab XM 電化學(xué)工作站
VersaSCAN微區(qū)掃描電化學(xué)工作站
Bruker Hysitron Tl 980納米壓痕儀
IM4000Ⅱ標(biāo)準(zhǔn)離子研磨儀
材料試驗(yàn)機(jī)
CHI760E系列電化學(xué)工作站
GVC-3000熱蒸發(fā)鍍碳儀
1470 celltest電化學(xué)測試系統(tǒng)
VibroMet2振動拋光機(jī)
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心
product
產(chǎn)品分類18600717106
在寬的光譜范圍從190nm（深紫外）到3，500nm（近紅外）
查看詳情
SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR
查看詳情
該設(shè)備利用背衍射法探測材料的晶體結(jié)構(gòu)，常用于單晶定向、測定晶體對稱性、表征晶體的成晶質(zhì)量等
查看詳情
8600系列VSM采用大量的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，在降低測量噪聲的同時(shí)提高了采樣速度
查看詳情
MCS-EMP多用途電磁鐵平臺提供了自動化可變磁場實(shí)驗(yàn)所需的所有基本組件，包括兩種尺寸可選（4英寸/7英寸）的電磁體，兩種尺寸可選（2英寸/4英寸）的磁極帽和磁體底座、以及電磁體系統(tǒng)控制柜
查看詳情
根據(jù)樣品成分選擇不同頻率的探頭，來測試不同衰減系數(shù)的樣品
查看詳情